Análisis de caracterización de superficies

 

Unidad específica para el análisis de elementos y compuestos superficiales de sólidos en las capas más externas del material (profundidad de análisis entre 0.1-5 nm).

Análisis cualitativo de elementos y compuestos y análisis cuantitativo de elementos tanto inorgánicos como orgánicos a nivel superficial. Siendo posible el seguimiento de la variación de composición en función de la profundidad, mediante la aplicación de desbastados superficiales.


Capacidades del laboratorio:

TOF-SIMS 5 (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)

Análisis superficial ( resolución de 0.1nm en profundidad) de muestras sólidas

-Análisis rutinario de composición superficial

-Análisis mediante imagen de componentes superficiales específicos.

-Análisis de perfil de profundidad (Deep profile).

-Aplicación de bajas energías de ionización con rupturas iónicas de distinto grado para análisis de sólidos orgánicos, orgánicos ocluidos, implantados, etc.

-Mapeado composicional de superficies.

-Rango de masas: 1-13000 u.

 

XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy)

Análisis superficial (1-5 nm) de muestras sólidas

-Análisis rutinario de composición superficial.

-Análisis por segmentos para cuantificación de compuestos de interés a nivel superficial.

-Análisis de perfil de profundidad (Deep profile).

-Detección de todos los elementos de la tabla periódica (excepto Hidrógeno y Helio).


Información adicional:

  • Puede emitir informe en inglés: Sí
  • Ensayo certificado: No

El Laboratorio cuenta con certificación ISO 9001:2008. Certificado ES050823-1.

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